數(shù)字式電阻率測(cè)試儀型號(hào)：M-2
是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量

產(chǎn)品型號(hào)：M-2

更新時(shí)間：2024-02-11

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：659

產(chǎn)品咨詢 15562333119

product

產(chǎn)品分類

tel-phone

查看全部

article

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹在線留言

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

數(shù)字式電阻率測(cè)試儀 型號(hào)：M-2

數(shù)字式電阻率測(cè)試儀

是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量
是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量。
儀器由主機(jī)，測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準(zhǔn)確，游移率較小，壽命長(zhǎng)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠，半導(dǎo)體器件廠，科研單位，高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合.
工作條件為：
溫度：
相對(duì)濕度： 60% ~ 70%
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾，不與高頻設(shè)備共用電源

二· 技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍：
電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□
電阻：10 -3  ~ 9999Ω
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直徑：15mm-100mm
長(zhǎng)（或高）度：≤400mm
3. 測(cè)量方位：
軸向，徑向均可
4. 數(shù)字電壓表
量程：2V
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB
Z大分辨力：10μA
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位)
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示
5. 數(shù)控恒流源
電流輸出：直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào)，系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB
6. 四探針測(cè)試探頭：
探針間距： 1mm
探針機(jī)械游移率：± 1%
探針：碳化鎢，直徑0.5mm
7.電源：
DC 4.5V ~8V
功耗： < 1W
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz
輸出：DC5V ± 10%
8. 外形尺寸：
主機(jī)： 170mm (長(zhǎng)) X 130mm (寬) X50mm(高)